大家都知道任何一種電容器都有它的老化原因，這種原因往往也是我們在操作中不適當而增進了它的老化速度，本文跟大家談談壓敏電阻的老化的問題。
壓敏電阻的老化是大多數情況下P-N結過載時會造成短路且不可回轉至正常狀態，在電沖擊的反復多次作用下壓敏電阻內的二極管元件被擊穿。電阻體的低阻線性化逐步加劇，壓敏電阻電壓越來越低，漏電流越來越大，隨著MOV本體溫度的升高，漏電流更大，形成惡性循環，以至MOV的溫度升高達到外包封材料的燃點。
這種情況稱之為高阻抗短路(1kΩ左右)，焦耳熱使得MOV發熱增加且集中流入薄弱點，薄弱點材料融化。形成1kΩ左右的短路孔后，電源繼續推動一個較大的電流灌入短路點，形成高熱而起火。研究結果表明，若壓敏電阻存在著制造問題，易發生早期失效，強度不大的電沖擊的反復多次作用，也會加速老化過程，使老化失效提早出現。