電子元器件特別是電容器已經應用的越來越廣了，同時需要面對各種考驗也越來越多，有物理的摔落、環境溫度濕度的影響、、化學的腐蝕、電流電壓不穩等各種因素影響，電容器備受考驗，故障也隨之增加，同時壽命在減少。因此估算多層陶瓷電容器的壽命，在壽命結束前及時更換，可避免不少的故障和意外。
一般情況下，多層陶瓷電容器由電介質構成，具有極高可靠性。在使用時，周圍環境的溫度會隨之升高，在陶瓷材料內部含量極少的原子等級的電荷缺陷會從正極向負極移動，結晶構造內部包含了極少量的氧空位。由此可看出，多層陶瓷電容器的壽命由陶瓷材料中氧空位的移動速度與量決定，我們應將產品使用時的環境溫度與負荷電壓作為參數，采用以下的公式進行壽命的估算：
此時，電容器的加速試驗中耐久試驗時間表示為LA，實際使用環境下的相當年數表示為LN，來用于上述公式。通過這個關系式，在更高的溫度、更高的電壓進行加速試驗，可預估產品在實際使用環境下的耐用年數。
以上就是多層陶瓷電容的壽命估算的方法了，但是要注意這只是估算哦，實際壽命會受多方面的影響的，因此只能作為參考。