BEST-UV600型顯微鏡分光光度計系統
優勢：顯微光譜測量系統是一套能夠實現微米級樣品光譜采集的儀器，將紫外－可見分光光度計的檢測范圍有效延伸到了微納光學領域，借助顯微鏡和微型光纖光譜儀的獨特優勢開拓性的研制了新一代的顯微光譜測試系統，設備成為這一光譜研究領域內領先的測試平臺。
波長：波段范圍 350?～1100 nm、300?～2500 nm（定制），量子化效率 95%@NOVA（TEC制冷）、75%@PG2000-Pro，動態范圍10000:1，信噪比1000:1，波長精度0.5 nm，重復性0.1 nm。
司法鑒定所文書鑒定文件技術鑒定實驗室標準配備設備：增加不同模塊可同時完成文件檢驗中紫外分光光度計、顯微分光光度計、拉曼光譜儀、顯微紅外光譜儀等各項工作需求，進行文件相對形成時間鑒定、文字相對書寫時間鑒定、印章印文相對形成時間鑒定、朱墨時序相對時間鑒定等檢驗
產品特點：
操作簡便：顯微鏡下成清晰像定位，可快速檢測
微區定位：利用共焦原理，實現微小區域的樣品定位和光譜采集
測量能力強：同步原位采集樣品光譜信息和成像信息
擴展功能多：可定制透反射、熒光以及拉曼光譜、Mapping測量
便攜維護：微型光譜儀可以插拔做其它檢測用途，維護簡單和使用便攜
參數
尺寸：157 x 115 x41 mm3
重量：光度計769g
探測器：探測器名稱Hamamatsu S10420-1106-01
探測范圍：165-1100 nm
像素數量：All: 2068×70pixels；Active: 2048×64pixels
像素大小：14×14 mm2
焦距大小：100mm
狹縫尺寸：10,25,50,100,200mm
專用軟件：鑒定文書自動生成系統軟件，光譜分析專用軟件
消高階濾光片：LVF-41-1，SLF-41-365-1，SLF-41-457-1，SLF-41-550-1
前置濾光片：OF-LP-01，OF-LP-02
光纖接頭：NA0.22的SMA905光纖接頭
波長范圍：200-1100nm
光學分辨率：0.18-7.05nm
信噪比：450:1
A/D位數：16 bits
暗噪聲：6 RMS
動態范圍：10000:1
積分時間：11ms~120 s
雜散光：0.1% @ 600nm
矯正線性度：>99%
功耗：200mA @5 VDC